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CS1901X系列局部放電安規(guī)綜合測試儀——電子變壓器測試

所屬分類：公司新聞

發(fā)布時間：2026-06-11

案例分享

試驗目的：協(xié)助客戶測試6只樣品的PDIV和PDEV差異性
測試條件：測試電壓：5.4kV,上升時間：10s
測試時間：30s，下降時間：10s，PDIV≥5kV,起始電量：50PC,
熄滅電量：50pC

測試結果分析

根據(jù)測試數(shù)據(jù)可分析，樣品1局部放電指標滿足設計要求，樣品2-6為不合格產(chǎn)品。（備注：1號樣品為進口高頻變壓器，樣品4-6為國內(nèi)制造商初期產(chǎn)品，樣品2-3為改進工藝后產(chǎn)品。最終在廠家4輪更改后，產(chǎn)品局部放電測試樣品性能與樣品1一致，滿足出口要求。）

這是一個非常典型的案例，很好地揭示了局部放電測試在電子變壓器（尤其是高壓高頻變壓器）質量控制和可靠性評估中的關鍵作用。局部放電測試是評估高壓變壓器絕緣系統(tǒng)長期可靠性和工藝質量的至關重要的“體檢”手段。它不是為了測試變壓器能否“通電工作”，而是為了預測其在長期高壓應力下能“可靠工作多久”。

問為什么電子變壓器要進行局放測試？

01 揭示肉眼不可見的潛在絕緣缺陷

這是最直接的原因。案例中樣品2-6的PDIV（局部放電起始電壓）低于5kV的要求，說明這些變壓器的絕緣系統(tǒng)存在微小但致命的缺陷。這些缺陷包括：內(nèi)部氣泡或空穴、尖端或毛刺、絕緣材料污染或雜質、工藝不一致等，都會導致絕緣薄弱點。

案例關聯(lián)：樣品4-6作為國內(nèi)制造商初期產(chǎn)品，PDIV不合格，直接反映了其生產(chǎn)工藝（如繞線、浸漆）不成熟，存在上述缺陷。樣品2-3作為改進工藝后產(chǎn)品，雖然可能有所改善，但PDIV仍未達標，說明改進尚未觸及根本問題或新工藝引入了其他缺陷。

02預測產(chǎn)品的長期壽命和可靠性

局部放電的破壞性是累積性的。每一次微小的放電都會造成電腐蝕、化學降解、熱降解等。這個過程雖然緩慢，但會持續(xù)不斷地削弱絕緣強度。最終，在長期運行電壓下，這個薄弱點會發(fā)展成導電通道，導致絕緣完全擊穿，變壓器短路失效。一個PDIV值低的產(chǎn)品，意味著它在正常工作時就可能已經(jīng)處于局部放電狀態(tài)，其壽命會大大縮短。

案例關聯(lián)：該變壓器要求PDIV ≥ 5kV，意味著其工作電壓可能遠低于5kV（例如3kV）。如果產(chǎn)品的PDIV只有4kV，那么在3kV下運行可能是安全的（無放電）。但如果另一個產(chǎn)品的PDIV只有2kV，那么它在3kV下就會持續(xù)放電，很快損壞。測試確保了產(chǎn)品在額定工作電壓下有足夠的安全裕量。

03評估和優(yōu)化制造工藝的有效工具

案例中最能體現(xiàn)這一點：“最終在廠家4輪更改后，產(chǎn)品局部放電測試樣品性能與樣品1一致”。

量化比較： PDIV/PDEV是具體的數(shù)值，為工藝改進提供了明確的、可量化的目標。制造商不能只憑“感覺”說工藝改好了，而必須用數(shù)據(jù)證明PDIV達到了進口樣品（樣品1）的水平。

問題定位：通過分析放電信號的特征，有時可以反推缺陷的類型和位置（是繞線問題還是浸漆問題），從而指導工藝改進的方向。

一致性控制：即使是合格的設計，如果生產(chǎn)工藝波動（如漆膜厚度、浸漆粘度、真空度變化），也會導致產(chǎn)品性能離散。局部放電測試可以篩選出因工藝波動而產(chǎn)生的“次品”，保證出廠產(chǎn)品的一致性。

04滿足特定應用領域的高可靠性要求

案例中提到“滿足出口要求”，這通常意味著產(chǎn)品要用于高端工業(yè)設備、醫(yī)療設備、新能源（光伏/電動汽車）、軌道交通、航空航天等領域。這些領域對設備的壽命和可靠性要求極高，不允許出現(xiàn)因絕緣問題導致的突然故障。局部放電測試是這類高壓元器件必須通過的“門檻”之一。

Solution
針對上述關鍵問題，CS1901X系列局部放電安規(guī)綜合測試儀提供了專業(yè)的解決方案。下面將重點介紹儀器的產(chǎn)品特性與核心功能，展示如何滿足高標準測試需求。

適用標準

CS1901X系列局部放電安規(guī)綜合測試儀，通過高靈敏度局部放電（PD）檢測技術，量化分析設備在高壓、高頻工況下的絕緣劣化趨勢，為新能源輔助變壓器、高頻變壓器、開關電源等關鍵部件的絕緣可靠性提供數(shù)據(jù)支撐，符合IEC60270（GB/T7354）、IEEE 436標準的要求。

產(chǎn)品簡介

CS19010/CS19011/CS19013系列局部放電安規(guī)綜合測試儀是一款適用于高頻變壓器、線纜、絕緣膜、高壓隔離集成電路（如光耦、磁耦、隔離放大器、隔離式數(shù)字通信芯片）、半導體高壓開關（如IGBT、MOSFET），及高壓絕緣組件（如隔離基板）、FIW線（完全絕緣漆包線）、低容值高壓電容器等器件耐電壓測試+漏電流測試+局部放電測試的綜合測量設備，可實現(xiàn)0.1kV~10kV范圍內(nèi)耐壓測試、0.1μA~1mA漏電流測試、1pC~10000pC局部放電測試，在發(fā)現(xiàn)隱藏在隔離器件/絕緣材料中的弱絕緣缺陷應用中展現(xiàn)出卓越的性能。

產(chǎn)品性能

1.實時的Q/V、Q/t趨勢圖：可觀測實時升降壓及測試過程中的局部放電變化趨勢；

2.精準的小信號測量：可測量1pC的電量，分辨率0.1pC。細微之處，盡顯眼底

3.HVCC檢測功能：避免塑封過程及測試夾具因素導致的接觸誤判；

4.適用性廣：可適用于光隔離器、IGBT、電子變壓器、高壓繼電器、定子、線材及絕緣材料的測試；

5.測試設置靈活：可根據(jù)測試模式，自由設置測試步驟、參數(shù)，適用不同標準測試要求；

6.實時、細致的服務：及時針對客戶現(xiàn)場出現(xiàn)的測試及自動化配套問題，提供復雜環(huán)境下的測試解決方案。