局部放電測試儀

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CS19010 系列局部放電測試儀是一款適用于高壓隔離集成電路（如光耦、磁耦、隔離放大器、隔離式數(shù)字通信芯片）、半導體高壓開關（如IGBT、MOSFET），及高壓絕緣組件（如隔離基板）、低容值高壓電容器等器件局部放電和耐壓測試的綜合測量設備，可實現(xiàn) 0.1kV~10kV 范圍內耐壓測試和局部放電測試。CS19010 系列局部放電測試儀采用試品串聯(lián)耦合測量模式，測試方法符合通用局放測量標準 GB/T 7354-2018 （IEC60270：2000），同時也符合特定器件的局放測量標準，如光隔離器安全標準（IEC60747-5-5）、數(shù)字隔離器安全標準（IEC60747-17）、低電壓設備安全標準（IEC60664-1）、半導體開關組件標準（IEC 60747-15）等；具有自定義高壓輸出波形、多種測量條件合格判斷功能，用戶可根據(jù)需求柔性組合，實現(xiàn)0.01uA~300uA 泄漏電流測量和 1pC~200pC 局部放電測量，可滿足大多數(shù)集成隔離器件和高絕緣材料的產(chǎn)品品質測試需求。
　　CS19010 系列局部放電測試儀的主要應用領域：（1）工業(yè)生產(chǎn)，依據(jù)相關標準在高壓器件（組件）生產(chǎn)過程中進行局部放電常規(guī)測試或現(xiàn)場診斷測試；（2）科學研究，對高壓絕緣材料進行局部放電特性研究或絕緣劣化過程研究。
　　1. CS19010 局部放電測試儀技術參數(shù)1.1 組成部分：CS19010A 主機、CS19010B 局部放電測試模塊CS19010C 局部放電校準器
　　1.2 局部放電測試儀技術參數(shù)

注： [1] 泄漏電流測量精度適用于電阻類和容性負載 [2]使用符合 IEC60270:2000 標準的局部放電校準器驗證局部放電檢測儀的性能，其測量準確度規(guī)格定義為與局部放電校準器的相對誤差。 1.3 局部放電校準器技術參數(shù)